综合薄膜测量软件

测量n, k,和膜厚

该软件包是为R(λ)和T(λ)测量的高级分析而设计的。

叠层膜分析

可以测量单个薄膜和层叠膜的每一层的薄膜厚度和折射率。

大量色散模型

集成的色散模型用于描述所有常用材料的光学特性。利用快速拟合算法，通过改变模型参数将计算得到的光谱调整到实测光谱。

用于光谱数据的高级分析的SENTECH FTPadv Expert软件包基于反射和透射测量确定薄膜厚度、折射率指数和消光系数。它扩展了薄膜厚度探针FTPadv的标准软件包，用于更复杂的应用，包括未知或非恒定光学性质的材料。可以在光滑或粗糙、透明或吸收衬底上测量单个透明或半透明膜的膜厚、折射率指数和消光系数。该软件允许对复杂层叠进行分析，可以确定各叠层的参数。

FTPadv Expert 薄膜测量软件具有FTPadv标准软件中的用户友好和基于配方操作的概念。具有突出拟合参数的光学模型、测量和计算的反射光谱，并且结果同时显示在操作屏幕上。

该软件包包括基于表格化材料文件以及参数化分散模型的大型和可扩展的材料库。

FTPadv Expert软件可选配用于膜厚探针FTPadv和反射仪RM 1000和RM 2000软件包的一部分。