双束扫描电镜借助这款扫描电子显微镜的超快速度,开启您对新维度的探索。现如今,在MultiSEM出色的图像采集速度推动下,您终于能够以纳米级的图像分辨率对大型样品进行高通量快速成像。

蔡司3D扫描电镜是一款具有处理各种材料能力的分析型显微镜，为您提供优异的成像品质。

扫描电子显微镜SEM 具有出色的探测效率，能够轻松地实现亚纳米分辨成像。无论是在高真空还是在可变压力模式下，更高的表面细节信息灵敏度让您在对任意样品进行成像和分析时都具备更佳的灵活性，为您在材料科学研究、生命科学研究、工业实验室或是显微成像平台中获取各种类型样品在微观世界中清晰、真实的图像，提供灵活、可靠的场发射扫描电子显微镜技术和方案。

扫描电子显微镜SEM EVO系列将高性能的扫描电镜和直观的、友好的用户界面体验结合在一起， 同时能够吸引经验丰富的用户以及新用户。无论是在生命科学， 材料科学， 或例行的工业质量保证和失效分析领域，凭借广泛的可选配置， EVO 都可以根据您的要求量身定制。

卡尔蔡司电子显微镜SEM，将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合，利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选：用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间：设置成像与分析步骤，提高效率。

扫描电子显微镜SEM 借助 MultiSEM 显微镜，您可以充分运用 91 条并行电子束的采集速度。现如今，您能够以纳米分辨率对厘米级样品成像。这款出色的扫描电子显微镜(SEM)专为 7 x 24 小时的连续、可靠运行而设计。只需简单设置高性能数据采集流程，MultiSEM 便能够独立地自动完成高衬度图像采集。

扫描电子显微镜SEM 蔡司Crossbeam系列的FIB-SEM结合了场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)出色的成像和分析性能，和新一代聚焦离子束(FIB)优异的加工性能。无论是在科研或是工业实验室，您都可以在一台设备上实现多用户同时操作。得益于蔡司Crossbeam系列模块化的平台设计理念，您可以根据自己需求的变化随时升级仪器系统。在加工、成像或是实现三维重构分析时，Crosssbeam系列都将

扫描电子显微镜SEM 　EVO18 Research 是学术和研究机构使用的一款分析型扫描电子显微镜。EVO 18 Research 为您提供优异的成像品质，具有处理多种材料的能力。结合SmartSEM 软件的易用性，使其成为多种研究应用的合适之选，范围涵盖半导体和电子技术、地质科学及材料研究。