综合薄膜测量软件 集成的色散模型用于描述所有常用材料的光学特性。利用快速拟合算法，通过改变模型参数将计算得到的光谱调整到实测光谱。

台式薄膜探针反射仪 二十年来，SENTECH已经成功地销售了用于各种应用的薄膜厚度探针FTPadv。这种台式反射仪的特点是不管在低温或高温下，在工业或研发环境中，都能通过远程或直接控制，对小样品或大样品进行实时或在线厚度测量。

反射膜厚仪 我们的反射仪的特点是通过样品的高度和倾斜调整进行准确的单光束反射率测量，光学布局的高光导允许对n和k进行重复测量，对粗糙表面进行测量以及对非常薄的薄膜进行厚度测量